產(chǎn)品樣本應(yīng)用文章
磨削裂絞是淬火后未回火的零件，或含殘余奧氏體多的零件磨削時(shí)出現(xiàn)的現(xiàn)象，這種裂紋不在磨削中發(fā)生，而在磨削后發(fā)生。磨削裂紋具有獨(dú)特的形狀，它與淬火裂紋不同，所以可立即進(jìn)行區(qū)別。 磨削裂紋產(chǎn)生的原因一般有下列幾方面：淬火后的鋼變成馬氏體組織，所以它處于膨脹狀態(tài)，如果把這種淬火鋼進(jìn)行加熱，大概到100 ℃發(fā)生第一次收縮，繼續(xù)加熱到300 ℃左右時(shí)，發(fā)生第二次收縮。 另外，鋼一經(jīng)過(guò)磨削，磨削區(qū)的溫度就上升，其溫度約為600℃。 因此，若把淬火后的鋼件進(jìn)行磨削，則僅磨削面的溫度升高，升到100 ℃時(shí)發(fā)生第一次收縮。這種收縮僅在表層發(fā)生，母體組織仍處于膨張狀態(tài)。因此，表層受張應(yīng)力發(fā)生龜裂。 這種龜裂稱為第一種磨削裂紋。當(dāng)磨削熱嚴(yán)重時(shí)，表層溫度達(dá)到300℃就發(fā)生第二次收縮導(dǎo)致主磨削裂紋。這種裂紋稱為第二種磨削裂紋。 為防止磨削裂紋，零件淬火后必須回火后再磨削。為防止第一種磨削裂紋，必須在100-200℃的溫度范圍內(nèi)回火；為防止第二種磨削裂紋，必須在300℃左右的溫度回火。 如果存在殘余奧氏體，磨削熱會(huì)使奧氏體轉(zhuǎn)化為馬氏體。若對(duì)此馬氏體繼續(xù)進(jìn)行磨削，也要發(fā)生磨削裂紋。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠 搭載模塊在常規(guī)XRD上 實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。
X射線衍射儀用Schulz反射法進(jìn)行殘余奧氏體含量測(cè)量，在測(cè)量過(guò)程中，試樣表面與X射線的聚焦平面重合，而且試樣在測(cè)量的過(guò)程中固定不動(dòng)，通過(guò)θ和2θ 軸的轉(zhuǎn)動(dòng)(滿足Bragg方程)來(lái)完成測(cè)量，這時(shí)所測(cè)量的只是平行于試樣表面的那些晶面的衍射信息。 因此，影響XRD殘余奧氏體定量的最重要因素是晶粒的擇優(yōu)取向。以馬氏體的(200)晶面的衍射為例，如果晶粒雜亂無(wú)章分布，那么從統(tǒng)計(jì)學(xué)上不同位置處(200)晶面所占比例是一樣的；然而一旦存在擇優(yōu)取向，則不同位置處(200)所占的比例將不同，這樣在X射線衍射儀測(cè)量時(shí)，有的位置參與衍射的(200)晶面增多，導(dǎo)致測(cè)量的(200)衍射峰的強(qiáng)度增加；而有的位置參與衍射的(200)晶面減少，導(dǎo)致測(cè)得的(200)衍射峰的強(qiáng)強(qiáng)度減弱。 而殘余奧氏體含量測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)《YB/T 5338—2006鋼中殘余奧氏體定量測(cè)定 X射線衍射儀法》是根據(jù)所測(cè)得的馬氏體、奧氏體衍射峰的強(qiáng)度比值進(jìn)行計(jì)算的，這樣在殘余奧氏體含量的真實(shí)值不變的前提下，由于擇優(yōu)取向引起衍射峰強(qiáng)度改變，導(dǎo)致殘余奧氏體的測(cè)量值(計(jì)算值)會(huì)與實(shí)際值差別很大，或者說(shuō)存在較大的誤差。 通常，由于受樣品表面狀況、晶粒取向、儀器參數(shù)等因素的影響，實(shí)際測(cè)量的衍射峰強(qiáng)度與理論值會(huì)存在一定的偏差�？紤]到這個(gè)因素，YB/T5338-2006標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：在利用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行殘余奧氏體含量計(jì)算時(shí)，馬氏體或奧氏體衍射峰的實(shí)測(cè)強(qiáng)度比與理論強(qiáng)度比允許波動(dòng)的相對(duì)范圍為±30%，即實(shí)測(cè)值和理論值偏差小于30%時(shí)可以采用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行殘余奧氏體含量的測(cè)量。
零件淬火后總是會(huì)多多少少的留出一些未轉(zhuǎn)換的殘余奧氏體。太多的殘余奧氏體對(duì)零件的使用期限和強(qiáng)度不好，會(huì)導(dǎo)致軟點(diǎn)和規(guī)格的多變性，但適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體能夠提升零件的疲勞強(qiáng)度。我們可以經(jīng)過(guò)控制殘余奧氏體來(lái)控制產(chǎn)品品質(zhì)和使用期限，以做到預(yù)期目標(biāo)。 1. 殘余奧氏體對(duì)各種零件的影響 （1）滾動(dòng)軸承規(guī)定有優(yōu)良的耐磨性能、高的翻轉(zhuǎn)疲勞強(qiáng)度合好的外形尺寸精密度可靠性，在常見(jiàn)應(yīng)力水準(zhǔn)下殘余奧氏體對(duì)疲憊使用壽命影響并不大。具體制造中45號(hào)鋼淬火后，一般不歷經(jīng)冷處理。 （2）傳動(dòng)齒輪一般都不需冷處理。殘余奧氏體有益于其疲倦使用壽命的提升。 （3）對(duì)工具鋼，殘余奧氏體可提升抗沖擊性。針對(duì)切削刀具，殘余奧氏體減少?gòu)?qiáng)度使加工性受到影響。對(duì)鉆頭、銑刀等關(guān)鍵承擔(dān)扭曲應(yīng)力的專用工具，適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體是有益的。對(duì)工作壓力生產(chǎn)的模具鋼，特別是在沖針適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體是有利的。殘余奧氏體相對(duì)性于馬氏體而言，殘余奧氏體似海棉，可緩存沖擊性，提升延展性，提升表層觸碰疲勞強(qiáng)度，增加沖針使用期限。 （4）對(duì)測(cè)量?jī)x器，殘余奧氏體不利確保規(guī)格精密度，務(wù)必用冷處理盡量地清除殘余奧氏體。 2. 殘余奧氏體影響各種因素 伴隨著鋁合金因素的提升 ，碳含量的提升，淬火正中間滯留或制冷速率遲緩，淬火溫度提升，都是會(huì)使殘余奧氏體提升。淬火時(shí)制冷終斷并等溫過(guò)程滯留，會(huì)使馬氏體最后變化量少，殘余奧氏體增加，這就是奧氏體的熱防老化。碳含量在過(guò)共析鋼點(diǎn)0.8上下，殘余奧氏體在25%下列，殘余應(yīng)力為壓應(yīng)力。零件滲碳后表層碳含量高，淬火后殘余奧氏體增加。 決策殘余奧氏體成分的首要要素分別是： （1）原料鋁合金因素的影響：Mn、Ni、Cr鋁合金元素使淬火后殘余奧氏體提升。 （2）原料碳成分提升，使殘余奧氏體提升。 （3）熱處理方法上，奧氏體化溫度提升，淬火溫度提升，淬火終止溫度提升，淬火制冷速率變?nèi)�，淬火正中間滯留，都是會(huì)使殘余奧氏體提升。在零件原材料明確的根基上，熱處理工藝適度減少淬火溫度，提升冷處理（持續(xù)淬火）等全是降低殘余奧氏體的合理對(duì)策。零件經(jīng)淬火冷處理回火后殘余奧氏體均≤10%，GCr1545號(hào)鋼一般在5%上下。
1. 降低殘留奧氏體對(duì)策 一般熱處理工藝淬火后開(kāi)展馬氏體變化，與此同時(shí)難以避免還會(huì)發(fā)生殘留奧氏體。要清除或控制殘留奧氏體，關(guān)鍵有下列幾類方式 ： （1）提升冷處理。冷處理是淬火得持續(xù)其本質(zhì)是減少制冷終止溫度，使殘留奧氏體進(jìn)一步轉(zhuǎn)換為馬氏體。這在GCr15的柱塞偶件中普遍應(yīng)用，是促進(jìn)殘留奧氏體變化的有效的方式 。一般殘留奧氏體控制在10%之內(nèi)。 （2）用馬氏體淬火替代馬氏體淬火，即提升淬火終止溫度，一般在Ms點(diǎn)周邊等溫過(guò)程，使反應(yīng)轉(zhuǎn)化成金相組織和滲碳體產(chǎn)生的纖維狀下馬氏體的類均衡機(jī)構(gòu)，因不開(kāi)展馬氏體變化，而降低殘留奧氏體。 （3）熱處理方法主要參數(shù)調(diào)節(jié)：①高碳鋼滲碳時(shí)控制碳勢(shì)，控制表層碳成分，控制氮碳化學(xué)物質(zhì)及滲碳體等級(jí)，進(jìn)而控制殘留奧氏體。②減少奧氏體化淬火溫度，淬火后馬上回火，也可降低殘留奧氏體的成分。③提升回火溫度。可讓鋼中殘留奧氏體變化為馬氏體或溶解，進(jìn)而降低殘留奧氏體。小于200℃回火，鋼中殘留奧氏體不溶解。歷經(jīng)200～300℃回火，鋼中殘留奧氏體逐漸轉(zhuǎn)化為下馬氏體。高過(guò)300℃回火，鋼中殘留奧氏體徹底溶解。在高速鋼560℃回火制冷時(shí)一部分殘留奧氏體產(chǎn)生馬氏體變化，提高硬度，降低殘留奧氏體。 （4）碳氮共滲時(shí)，氨氣及碳氮化合物造成 殘留奧氏體增加。選用滲碳+淬火加工工藝替代碳氮共滲淬火，歷經(jīng)冷處理后可使在500倍高倍放大鏡下人眼觀測(cè)不上，殘留奧氏體基本上低于10%或5%。 2. 生產(chǎn)制造應(yīng)用 在實(shí)際生產(chǎn)制造中，應(yīng)用于CB18、CPN2.2-0401挺圓柱體、滾軸軸套滲淬后殘留奧氏體的控制。根據(jù)控制氛圍，氨氣進(jìn)入量由40～80L/h,調(diào)節(jié)至20L/h；丙烷控制在200L/h，控制降低表層氮碳化學(xué)物質(zhì)及滲碳體。減少淬火溫度：由850℃調(diào)節(jié)至820～830℃，提升冷處理，回火溫度由180℃提升到200℃等一系列加工工藝主要參數(shù)調(diào)節(jié)對(duì)策，使結(jié)果大幅改進(jìn)，控制殘留奧氏體低于10%，做到技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
1. 加熱溫度 隨加熱溫度的提高，原子擴(kuò)散速率急劇加快，使得奧氏體化速度大大增加，形成所需時(shí)間縮短。 2. 加熱速度 加熱速度越快，孕育期縮短，奧氏體開(kāi)始轉(zhuǎn)變的溫度和轉(zhuǎn)變終了的溫度越高，轉(zhuǎn)變終了所需的時(shí)間越短。 3. 合金元素及鋼的化學(xué)成分 在一定的含碳量范圍內(nèi)，奧氏體中碳含量增高，晶粒長(zhǎng)大傾向增大。C%高，C在奧氏體中的擴(kuò)散速度以及Fe的自擴(kuò)散速度均增加，奧氏體晶粒長(zhǎng)大傾向增加，但C%超過(guò)一定量時(shí)，由于形成Fe3CII，阻礙奧氏體晶粒長(zhǎng)大。 鋼中加入鈦、釩、鈮、鋯、鋁等元素，有利于得到本質(zhì)細(xì)晶粒鋼，因?yàn)樘蓟铩⒀趸锖偷飶浬⒎植荚诰Ы缟�，能阻礙晶粒長(zhǎng)大。 錳和磷促進(jìn)晶粒長(zhǎng)大。強(qiáng)碳化物形成元素Ti、Zr、V、W、Nb等熔點(diǎn)較高，它們彌散分布在奧氏體中阻礙奧氏體晶粒長(zhǎng)大；非碳化物形成元素Si、Ni等對(duì)奧氏體晶粒長(zhǎng)大影響很小。 鈷、鎳等加快奧氏體化過(guò)程； 鉻、鉬、釩等減慢奧氏體化過(guò)程； 硅、鋁、錳等不影響奧氏體化過(guò)程。 由于合金元素的擴(kuò)散速度比碳慢得多，所以合金鋼的熱處理加熱溫度一般較高，保溫時(shí)間更長(zhǎng)。 4. 原始組織 原始組織中滲碳體為片狀時(shí)奧氏體形成速度快，且滲碳體間距越小，轉(zhuǎn)變速度越快，同時(shí)奧氏體晶粒中碳濃度梯度也大，所以長(zhǎng)大速度更快。球化退火態(tài)的粒狀珠光體，其相界面較少，因此奧氏體化慢。 影響奧氏體晶粒長(zhǎng)大的因素： a. 加熱溫度和保溫時(shí)間 由于奧氏體晶粒長(zhǎng)大與原子擴(kuò)散有密切關(guān)系，所以隨著溫度愈高，或在一定溫度下，保溫時(shí)間越長(zhǎng)，奧氏體晶粒也越粗大。 b. 加熱速度加熱溫度相同時(shí)，加熱速度越快，過(guò)熱度越大，奧氏體的實(shí)際形成溫度越高，形核率的增加大于長(zhǎng)大速度，使奧氏體晶粒越細(xì)小。生產(chǎn)上常采用快速加熱短時(shí)保溫工藝來(lái)獲得超細(xì)化晶粒。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠 搭載模塊在常規(guī)XRD上 實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。
逆共析轉(zhuǎn)變是高溫下進(jìn)行的擴(kuò)散性相變，轉(zhuǎn)變的全過(guò)程可以分為四個(gè)階段，即：奧氏體形核，奧氏體晶核長(zhǎng)大，剩余滲碳體溶解，奧氏體成分相對(duì)均勻化。各種鋼的奧氏體形核形成過(guò)程有一些區(qū)別，亞共析鋼、過(guò)共析鋼、合金鋼的奧氏體化過(guò)程中除了奧氏體形成的基本過(guò)程外，還有先共析相的溶解、合金碳化物的溶解等過(guò)程。 奧氏體形成的熱力學(xué)條件：必須存在過(guò)冷度或過(guò)熱度?T。 1. 奧氏體形核 奧氏體的形核位置通常在鐵素體和滲碳體兩相界面上，此外，珠光體領(lǐng)域的邊界，鐵素體嵌鑲塊邊界都可以成為奧氏體的形核地點(diǎn)。奧氏體的形成是不均勻形核，復(fù)合固態(tài)相變的一般規(guī)律。 一般認(rèn)為奧氏體在鐵素體和滲碳體交界面上形核。這是由于鐵素體碳含量極低(0.02%以下)，而滲碳體的碳含量又很高(6.67%)，奧氏體的碳含量介于兩者之間。在相界面上碳原子有吸附，含量較高，界面擴(kuò)散速度又較快，容易形成較大的濃度漲落，使相界面某一區(qū)域達(dá)到形成奧氏體晶核所需的碳含量；此外在界面上能量也較高，容易造成能量漲落，以便滿足形核功的要求；在兩相界面處原子排列不規(guī)則，容易滿足結(jié)構(gòu)漲落的要求。所有漲落在相界面處的優(yōu)勢(shì)，造成奧氏體晶核最容易在此處形成。 奧氏體的形核是擴(kuò)散型相變，可在鐵素體與滲碳體上形核，也可在珠光體領(lǐng)域的交界面上形核，還可以在原奧氏體晶核上形核。這些界面易于滿足形核的能量、結(jié)構(gòu)和濃度3個(gè)漲落條件。 2. 奧氏體晶核的長(zhǎng)大 加熱到奧氏體相區(qū)，在高溫下，碳原子擴(kuò)散速度很快，鐵原子和替換原子均能夠充分?jǐn)U散，既能夠進(jìn)行界面擴(kuò)散，也能夠進(jìn)行體擴(kuò)散，因此奧氏體的形成是擴(kuò)散型相變。 3. 剩余碳化物溶解 鐵素體消失后，在t1溫度下繼續(xù)保持或繼續(xù)加熱時(shí)，隨著碳在奧氏體中繼續(xù)擴(kuò)散，剩余滲碳體不斷向奧氏體中溶解。 4. 奧氏體成分均勻化 當(dāng)滲碳體剛剛?cè)咳谌電W氏體后，奧氏體內(nèi)碳濃度仍是不均勻的，只有經(jīng)歷長(zhǎng)時(shí)間的保溫或繼續(xù)加熱，讓碳原子急性充分的擴(kuò)散才能獲得成分均勻的奧氏體。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠 搭載模塊在常規(guī)XRD上 實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。
1. 射線管位置及檢測(cè)器位置固定，在保證測(cè)試快速的同時(shí)，可有效減少維護(hù)區(qū)域。2. 專業(yè)高清USB攝像機(jī)安裝在GNR ARE X系統(tǒng)內(nèi)部，輔助對(duì)齊樣品所測(cè)試區(qū)域。3. 提供多種不同規(guī)格的樣品架以匹配不同形狀的樣品。4. 一旦樣品載入樣品架，關(guān)閉艙門，激光自動(dòng)測(cè)量樣品表面位置，可通過(guò)連接到Z臺(tái)的旋鈕手動(dòng)校準(zhǔn)。意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠 搭載模塊在常規(guī)XRD上 實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。
1. X射線管靶材及功率條件 功率條件取決于作為目標(biāo)材料和焦點(diǎn)類型的射線管。盡管Cu靶廣泛用于衍射（特別是多用途衍射儀），但不建議使用Cu靶進(jìn)行殘余奧氏體分析，因?yàn)殍F基材料的熒光很強(qiáng)（可以使用Cu靶，但需要從衍射光束中去除熒光）。 因此，可以使用Mo、Cr或Co來(lái)避免熒光，然后實(shí)現(xiàn)較低的背景。ASTM指出，推薦選擇是Cr或Mo，這取決于是否需要獲得更好的分辨率（Cr）或是否需要收集盡可能多的峰（Mo）以盡量減少樣品問(wèn)題（樣品的不均勻性或織構(gòu)）。 此外，Mo靶的輻射能量更高，也能使吸收效應(yīng)zui小化，從而獲得更高的計(jì)數(shù)率。 因此，Mo靶是殘余奧氏體測(cè)試的優(yōu)選，我們選擇它來(lái)裝配到ARE X殘余奧氏體分析儀。 至于推薦功率，它取決于輻射能量，因此Mo>Co>Cr。 2. Mo靶與Cr靶實(shí)際測(cè)試對(duì)比 對(duì)于殘余奧氏體的XRD測(cè)量，可以使用任何能夠記錄至少2個(gè)α鐵峰和2個(gè)γ鐵峰的輻射靶才行，它可以是Cr、Mo，甚至Co。 如下所示，使用Mo靶相較Cr靶而言還有其他優(yōu)勢(shì)，比如使用Cr靶的測(cè)試誤差要大于Mo靶。 使用Cr靶的優(yōu)勢(shì)是它可能具有更好的峰分辨率，因?yàn)榉灞舜讼嗑嗪苓h(yuǎn)。但是，如果使用當(dāng)前的快速檢測(cè)器，這并無(wú)太大實(shí)際意義。所以對(duì)于ARE X殘余奧氏體分析儀仍然推薦使用Mo靶。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠搭載模塊在常規(guī)XRD上實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。
1.用于殘余奧氏體分析儀的樣品必須經(jīng)過(guò)切割，將熱效應(yīng)降至低值，由于大多數(shù)含有殘余奧氏體的鋼鐵比較堅(jiān)硬，所以需要使用砂輪切割片磨削樣品，如果樣品不進(jìn)行適當(dāng)?shù)睦鋮s，砂輪片存在嚴(yán)重的熱效應(yīng)，可能導(dǎo)致樣品本身的殘余奧氏體發(fā)生改變。與采用鋼鋸切割比較，更建議使用砂輪切割。 2.樣品粗模式時(shí)需要使用銑床或高壓輥磨機(jī)，此種處理方法會(huì)改變表面形狀和殘余奧氏體，使得體內(nèi)殘余奧氏體含量高于表面殘余奧氏體含量，在樣品打磨時(shí)將樣品切成小塊，可以有效的解決形變和殘余奧氏體變化。 3.殘余奧氏體分析儀需要使用標(biāo)準(zhǔn)金相濕磨和拋光的方法，需要使用粒徑為80#、120#、240#、320#、400#、600#的碳化硅或氧化鋁的細(xì)砂紙，其它材質(zhì)或粒徑的砂紙也可能用到，最后使用6um金剛石或當(dāng)量粒徑的磨料進(jìn)行拋光。 4.由于砂紙或過(guò)度 拋光引起的表面變形，可以改變樣品內(nèi)的殘余奧氏體，在在初級(jí)的樣品拋光時(shí)也可以采用電解和化學(xué)拋光，用來(lái)保證金相級(jí)樣品制備。采用標(biāo)準(zhǔn)醋酸鉻溶液進(jìn)行電解拋光至0.005-in，使用600#的砂紙或特定的化學(xué)電解液將鋼鐵拋光至6um，可以保證金相級(jí)樣品制備，熱酸刻蝕拋光不推薦使用，在有選擇的刻蝕某相時(shí)，此項(xiàng)變?yōu)閮?yōu)先取向。 5.根據(jù)樣品尺寸選擇合適的樣品臺(tái)，保證X射線束能在樣品上進(jìn)行2theta衍射。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠搭載模塊在常規(guī)XRD上實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。
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