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儀器簡介

EXPLORER 在眾多分析領域都可發(fā)揮優(yōu)良的性能，例如可以測量混合物質的相態(tài)；檢測微觀的結構性質，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應力和晶體取向等。其模塊化設計，更是為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器可以滿足新的分析需求。

主要特點
■ 直接傳動高精度轉矩馬達與優(yōu)良的光學編碼器相結合，確保了儀器的傳動速度和精度；
■ 全部組件可以拆分為7個模塊，同時可以在5個獨立自由度上檢測樣品，適用于粉末、薄膜和塊狀樣品；
■ 可以進行常規(guī)的晶相識別和定量，可以分析晶體尺寸、晶格應變及結晶度的計算；
■ 可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結構分析、殘余應力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向、納米粒子分析；
■ 光學系統(tǒng)可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換；
■ 高分辨的反射技術，讓檢測厚度精確至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進行薄膜或層次分析；
■ 將拋面鏡單色器與晶體開槽技術有機結合，并安裝在入射光束上，可以獲得高強度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光；
■ 強大、簡便的操作軟件使得檢測工作更加簡單，軟件同時具有其他進階功能，可以幫助用戶對復雜的譜圖進行分析。